Анотація до роботи:

Крицун І.І. Багатохвильова Х-променева дифрактометрія реальних кристалів. - Рукопис. Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.01 - Фізика твердого тіла. – Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича. Чернівці, 2005.

Запропоновано метод визначення абсолютних значень періодів гратки кристалів за допомогою багатохвильової дифрактометрії. Розглянуто випадкову багатохвильову дифракцію, що реалізується в результаті зближення й накладання різнойменних трихвильових і відбивань шляхом зміни періоду гратки (нагріванням зразка). Розглянуто компланарну багатохвильову дифракцію, що реалізується в результаті зближення й накладання структурно-еквівалентних () відбивань шляхом зміни періоду гратки (охолодженням зразка). Умові реалізації компланарної дифракції властива висока чутливість до зміни параметрів гратки.

Запропонована методика не містить похибок, пов'язаних з неточністю лімба гоніометра, і характеризується високою прецизійністю Da/a ~ 10^-6. Залежно від ступеня досконалості кристала, похибка виміру періодів гратки даним методом становить: Dа @ 10⁴10^-6 .

Для розрахунку й графічного подання багатохвильових дифракційних зображень при азимутальному скануванні кристала у випадку дифракції за Бреггом на підставі динамічної теорії розсіювання рентгенівських променів розроблено алгоритм і відповідне програмне забезпечення.