Мішакова Тетяна Олександрівна. Еліпсометрія напівпровідникових планарних наноструктур з урахуванням ефектів ближнього поля.- Дисертація канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07, [Нац.] акад. наук України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К., 2013.- 180 с. : рис., табл.