Раранський Андрій Миколайович. Рентгенівська дифрактометрія тонких приповерхневих шарів монокристалів : Дис... канд. фіз.- мат. наук: 01.04.07 / Чернівецький держ. ун-т ім. Ю.Федьковича. — Чернівці, 1996. — 163с.