Каземірський Тарас Анатолійович. Високороздільна Х-променева дифрактометрія структурних порушень у приповерхневих шарах Si та кристалічних з'єднань CdHgTe, YLaFeO після іонної імплантації : Дис... канд. наук: 01.04.07 - 2009.